Measurement techniques for radio frequency nanoelectronics

Connect basic theory with real-world applications with this practical, cross-disciplinary guide to radio frequency measurement of nanoscale devices and materials.• Learn the techniques needed for characterizing the performance of devices and their constituent building blocks, including semiconductin...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Wallis, T. Mitch 1974-
Weitere Verfasser: Kaboš, P.
Format: E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Cambridge Cambridge University Press 2017
Schriftenreihe:The Cambridge RF and microwave engineering series
Online-Zugang:Volltext
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