Atom-probe field ion microscopy field ion emission and surfaces and interfaces at atomic resolution
Atom-probe field ion microscopy is currently the only technique capable of imaging solid surfaces with atomic resolution, and at the same time of chemically analysing surface atoms selected by the observer from the field ion image. Field ion microscopy has been successfully used to study most metals...
Gespeichert in:
1. Verfasser: | |
---|---|
Format: | E-Book |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
Cambridge
Cambridge University Press
1990
|
Online-Zugang: | Volltext |
Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Wegen Wartungsarbeiten nicht verfügbar
Unser Bibliotheksverwaltungssystem ist momentan wegen Wartungsarbeiten nicht verfügbar.
Bestandes- und Verfügbarkeitsinformationen können momentan leider nicht angezeigt werden. Wir entschuldigen uns für die Umstände und stehen für weitere Fragen gerne zur Verfügung: