Atom-probe field ion microscopy field ion emission and surfaces and interfaces at atomic resolution

Atom-probe field ion microscopy is currently the only technique capable of imaging solid surfaces with atomic resolution, and at the same time of chemically analysing surface atoms selected by the observer from the field ion image. Field ion microscopy has been successfully used to study most metals...

Ausführliche Beschreibung

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Tsong, Tien Tsou 1934-
Format: E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Cambridge Cambridge University Press 1990
Online-Zugang:Volltext
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