Ultra clean processing of semiconductor surfaces XI selected, peer reviewed papers from the 11th international symposium on ultra clean processing of semiconductor surfaces (UCPSS), September 17-19, 2012, Gent, Belgium

This volume covers various aspects of ultra-clean technology for the large-scale integration of semiconductors. These include cleaning and contamination control in both front-end-of-line (FEOL) and back-end-of-line (BEOL) processing, as well as cleaning for semiconductor photo-voltaic applications....

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium on Ultra Clean Processing of Semiconductor Surfaces Ghent, Belgium
Weitere Verfasser: Heyns, Marc, Mertens, Paul, Meuris, Marc
Format: Tagungsbericht E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Durnten-Zurich, Switzerland Trans Tech Publications Ltd. [2013]
Schriftenreihe:Solid state phenomena v. 195
Online-Zugang:Volltext
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