An introduction to mixed-signal IC test and measurement

"With the proliferation of complex semiconductor devices containing digital, analog, mixed-signal and radio-frequency circuits, the economics of test has come to the forefront and today's engineer needs to be fluent in all four circuit types. Having access to a book that covers these topic...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Roberts, Gordon W. 1959-
Weitere Verfasser: Burns, Mark 1962-, Taenzler, Friedrich
Format: E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York Oxford University Press ©2012
Ausgabe:2nd ed.
Schriftenreihe:The Oxford series in electrical and computer engineering
Online-Zugang:Volltext
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