Characterization of semiconductor materials principles and methods
Includes chapters on Electrical Characterization, Ion Mass Spectrometry, Photoelectron Spectroscopy, and Ion/Solid Interactions.
Gespeichert in:
| Weitere Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | E-Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Park Ridge, N.J.
Noyes Publications
©1989-
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| Schriftenreihe: | Materials science and process technology series
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| Online-Zugang: | Volltext |
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