Active Probe Atomic Force Microscopy A Practical Guide on Precision Instrumentation

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Hauptverfasser: Xia, Fangzhou (VerfasserIn), Rangelow, Ivo W. (VerfasserIn), Youcef-Toumi, Kamal (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Cham Springer International Publishing 2024
Cham Springer
Ausgabe:1st ed. 2024
Schlagworte:
Measurement Science and Instrumentation
Electronics and Microelectronics, Instrumentation
Mechatronics
Spectroscopy
Microsystems and MEMS.
Measurement
Measuring instruments
Electronics
Spectrum analysis
Microtechnology
Microelectromechanical systems
Online-Zugang:TUM01
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