Addressing process variations at the microarchitecture and system level
This monograph surveys emerging statistical design techniques targeted towards the analysis and mitigation of process variation at the system level design abstraction, for both conventional planar and emerging 3D integrated circuits
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Boston
Now Publishers
2012
|
| Schriftenreihe: | Foundations and trends in electronic design automation
Vol. 6, no. 3 (2012) |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | DE-91 |
| Tags: |
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