The Schottky–Mott rule expanded for two-dimensional semiconductors: influence of substrate dielectric screening

The Schottky–Mott rule expanded for two-dimensional semiconductors: influence of substrate dielectric screening

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser:	Park, Soohyung (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Berlin Humboldt-Universität zu Berlin 2021
Ausgabe:	[Zweitveröffentlichung]
Online-Zugang:	kostenfrei
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