The Schottky–Mott rule expanded for two-dimensional semiconductors: influence of substrate dielectric screening
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Berlin
Humboldt-Universität zu Berlin
2021
|
| Ausgabe: | [Zweitveröffentlichung] |
| Online-Zugang: | kostenfrei |
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