Practical materials characterization
X-ray diffraction and reflectivity / Mauro R. Sardela Jr. -- Introduction to optical characterization of materials / Julio A.N.T. Soares -- X-ray photoelectron spectroscopy (XPS) and auger electron spectroscopy (AES) / Richard T. Haasch -- Secondary ion mass spectrometry / Judith E. Baker -- Transmi...
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| Weitere Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
New York ; Heidelberg ; Dordrecht
Springer
[2014]
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis Autorenbiografie Verlagsangaben |
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