New approaches to image processing based failure analysis of nano-scale ULSI devices
New Approaches to Image Processing Based Failure Analysis of Nano-Scale ULSI Devices introduces the reader to transmission and scanning microscope image processing for metal and non-metallic microstructures. Engineers and scientists face the pressing problem in ULSI development and quality assurance...
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Oxford
William Andrew
2014
|
| Schriftenreihe: | Micro & nano technologies
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | FLA01 URL des Erstveröffentlichers |
| Tags: |
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