Advanced measurement and test selected, peer reviewed papers from the 2010 International Conference on Advanced Measurement and Test (AMT 2010), May 15-16, 2010, Sanya, P.R. China = Advanced Measurement and Test X
Gespeichert in:
| Körperschaft: | |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Stafa-Zurich, Switzerland ; Enfield, NH
Trans Tech Publications
2010
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| Schriftenreihe: | Key engineering materials
v. 439-440 |
| Schlagworte: | |
| Tags: |
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