Auger Electron Spectroscopy Practical Application to Materials Analysis and Characterization of Surfaces, Interfaces, and Thin Films
This book discusses the use of Auger electron spectroscopy (AES) and scanning Auger microscopy for the characterization of a wide range of technological materials, including, metals and alloys, semiconductors, nanostructures, and insulators. Its value as a tool for high-resolution elemental imaging...
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
New York
Momentum Press
2015
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | DE-863 DE-862 |
| Tags: |
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