Reliability, Yield, and Stress Burn-In A Unified Approach for Microelectronics Systems Manufacturing & Software Development

The international market is very competitive for high-tech manufacturers to­ day. Achieving competitive quality and reliability for products requires leader­ ship from the top, good management practices, effective and efficient operation and maintenance systems, and use of appropriate up-to-date eng...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Kuo, Way (VerfasserIn), Chien, Wei-Ting Kary (VerfasserIn), Kim, Taeho (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Boston, MA Springer US 1998
Schlagworte:
Online-Zugang:DE-634
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