Rapid Reliability Assessment of VLSICs
The increasing application of integrated circuits in situations where high reliability is needed places a requirement on the manufacturer to use methods of testing to eliminate devices that may fail on service. One possible approach that is described in this book is to make precise electrical measur...
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| Hauptverfasser: | , , , |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Boston, MA
Springer US
1990
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | DE-634 URL des Erstveröffentlichers |
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