Yield and Variability Optimization of Integrated Circuits
Traditionally, Computer Aided Design (CAD) tools have been used to create the nominal design of an integrated circuit (IC), such that the circuit nominal response meets the desired performance specifications. In reality, however, due to the disturbances ofthe IC manufacturing process, the actual per...
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Boston, MA
Springer US
1995
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | BTU01 URL des Erstveröffentlichers |
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