Testability Concepts for Digital ICs The Macro Test Approach

Preface Testing Integrated Circuits for manufacturing defects includes four basic disciplines. First of all an understanding of the origin and behaviour of defects. Secondly, knowledge of IC design and IC design styles. Thirdly, knowledge of how to create a test program for an IC which is targeted o...

Ausführliche Beschreibung

Bibliographische Detailangaben

Hauptverfasser:	Beenker, F. P. M. (VerfasserIn), Bennetts, R. G. (VerfasserIn), Thijssen, A. P. (VerfasserIn)
Format:	Elektronisch E-Book
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Boston, MA Springer US 1995
Schriftenreihe:	Frontiers in Electronic Testing 3
Schlagworte:	Engineering Circuits and Systems Electrical Engineering Electrical engineering Electronic circuits Digitale integrierte Schaltung Testbarkeit
Online-Zugang:	DE-634 URL des Erstveröffentlichers
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