Delay Fault Testing for VLSI Circuits
In the early days of digital design, we were concerned with the logical correctness of circuits. We knew that if we slowed down the clock signal sufficiently, the circuit would function correctly. With improvements in the semiconductor process technology, our expectations on speed have soared. A fre...
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Elektronisch E-Book |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Boston, MA
Springer US
1998
|
| Schriftenreihe: | Frontiers in Electronic Testing
14 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | BTU01 URL des Erstveröffentlichers |
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