Point Defects in Semiconductors and Insulators Determination of Atomic and Electronic Structure from Paramagnetic Hyperfine Interactions

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This book introduces the principles and techniques of modern electron paramagnetic resonance (EPR) spectroscopy that are essential for applications used to determine microscopic defect structures. Many different magnetic resonance methods are required for investigating the microscopic and electronic...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Spaeth, Johann-Martin (VerfasserIn), Overhof, Harald (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Berlin, Heidelberg Springer Berlin Heidelberg 2003
Schriftenreihe:Springer Series in Materials Science 51
Schlagworte:
Engineering
Electronics and Microelectronics, Instrumentation
Optical and Electronic Materials
Electronics
Microelectronics
Optical materials
Electronic materials
Online-Zugang:DE-573
DE-634
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