Thermal Testing of Integrated Circuits

Integrated circuits (IC's) have undergone a significant evolution in terms of complexity and performance as a result 'of the substantial advances made in manufacturing technology. Circuits, in their various mixed formats, can be made up tens or even hundreds of millions of devices. They wo...

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Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Altet, Josep (VerfasserIn), Rubio, Antonio (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Boston, MA Springer US 2002
Schlagworte:
Online-Zugang:FHI01
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