Thermal Testing of Integrated Circuits
Integrated circuits (IC's) have undergone a significant evolution in terms of complexity and performance as a result 'of the substantial advances made in manufacturing technology. Circuits, in their various mixed formats, can be made up tens or even hundreds of millions of devices. They wo...
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Hauptverfasser: | , |
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Format: | Elektronisch E-Book |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
Boston, MA
Springer US
2002
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Schlagworte: | |
Online-Zugang: | FHI01 BTU01 URL des Erstveröffentlichers |
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