Essentials of electronic testing for digital, memory and mixed-signal VLSI circuits

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The modern electronic testing has a forty year history. Test professionals hold some fairly large conferences and numerous workshops, have a journal, and there are over one hundred books on testing. Still, a full course on testing is offered only at a few universities, mostly by professors who have...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Bushnell, Michael L. 1950- (VerfasserIn), Agrawal, Vishwani D. 1943- (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Boston, MA Springer 2002
Schriftenreihe:Frontiers in electronic testing 17
Schlagworte:
Engineering
Electronics and Microelectronics, Instrumentation
Theory of Computation
Circuits and Systems
Electrical Engineering
Computer-Aided Engineering (CAD, CAE) and Design
Computers
Computer-aided engineering
Electrical engineering
Electronics
Microelectronics
Electronic circuits
Prüftechnik
VLSI
Elektronische Schaltung
Online-Zugang:DE-634
DE-573
DE-91
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