Machine vision applications in industrial inspection XI 22-24 January 2003, Santa Clara, California, USA

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Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser:	Tobin, Kenneth W. (HerausgeberIn), Price, Jeffery R. (HerausgeberIn)
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Bellingham, Washington SPIE [2003]
Schriftenreihe:	Proceedings of SPIE vol. 5011
Schlagworte:	Computer vision > Industrial applications > Congresses Engineering inspection > Automation > Congresses Measurement > Congresses Quality control > Optical methods > Automation > Congresses Konferenzschrift
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