Machine vision applications in industrial inspection XI 22-24 January 2003, Santa Clara, California, USA
Gespeichert in:
| Weitere Verfasser: | , |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Bellingham, Washington
SPIE
[2003]
|
| Schriftenreihe: | Proceedings of SPIE
vol. 5011 |
| Schlagworte: | |
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