VLSI design and test 21st International Symposium, VDAT 2017, Roorkee, India, June 29 - July 2, 2017 : revised selected papers

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Weitere Verfasser: Kaushik, Brajesh Kumar (HerausgeberIn), Dasgupta, Sudeb (HerausgeberIn), Singh, Virendra (HerausgeberIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Singapore Springer [2017]
Schriftenreihe:Communications in Computer and Information Science 711
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