Robust design of microelectronics assemblies against mechanical shock, temperature and moisture

This book discusses how the reliability of packaging components is a prime concern to electronics manufacturers. The text presents a thorough review of this field of research, providing users with a practical guide that discusses theoretical aspects, experimental results, and modeling techniques. De...

Ausführliche Beschreibung

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Wong, E-H (VerfasserIn), Mai, Y. W. 1946- (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Cambridge, UK Woodhead Publishing [2015]
Schriftenreihe:Woodhead Publishing series in electronic and optical materials no. 81
Schlagworte:
Online-Zugang:DE-1046
DE-860
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