VLSI reliability

As integrated cicuits become more complex, with smaller and smaller geometries, much more care must be taken to avoid reliability problems. This practical volume covers a broad spectrum of reliability issues in integrated circuits, from basic concepts to packaging

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Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Sabnis, Anant G. (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: San Diego Academic Press 1990
Schriftenreihe:VLSI electronics v. 22
Schlagworte:
Online-Zugang:DE-1046
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