Gettering and defect engineering in semiconductor technology XIV selected papers from the XIVth International Biannual Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor [Technology], (GADEST2011) September 25-30, 2011, Loipersdorf (Fürstenfeld), Austria

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology < 2011, Loipersdorf, Austria> (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Durnten-Zuerich Trans Tech ©2011
Schriftenreihe:Diffusion and defect data v. 178-179
Schlagworte:
Online-Zugang:FAW01
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