Gettering and defect engineering in semiconductor technology XIV selected papers from the XIVth International Biannual Meeting on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor [Technology], (GADEST2011) September 25-30, 2011, Loipersdorf (Fürstenfeld), Austria
Gespeichert in:
Körperschaft: | |
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Format: | Elektronisch E-Book |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
Durnten-Zuerich
Trans Tech
©2011
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Schriftenreihe: | Diffusion and defect data
v. 178-179 |
Schlagworte: | |
Online-Zugang: | FAW01 FAW02 |
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