Next generation HALT and HASS robust design of electronics and systems

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Gray, Kirk (VerfasserIn), Paschkewitz, John James (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Chichester, UK John Wiley & Sons 2016
Schlagworte:
Online-Zugang:FHN01
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