ISTFA 2003 proceedings of the 29th International Symposium for Testing and Failure Analysis, 2-6 November 2003, Santa Clara Convention Center, Santa Clara, California

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium for Testing and Failure Analysis < 2003, Santa Clara, Calif.> (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: Materials Park, Ohio ASM International 2003
Schlagworte:
TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Digital
TECHNOLOGY & ENGINEERING / Electronics / Microelectronics
Electronic apparatus and appliances / Testing
Electronics / Materials / Testing
Electronics > Materials > Testing > Congresses
Electronic apparatus and appliances > Testing > Congresses
Prüftechnik
Elektronik
Konferenzschrift
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