On-Wafer calibration techniques enabling accurate characterization of high-performance silicon devices at the mm-wave range and beyond
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| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Abschlussarbeit Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
2014
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| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | kostenfrei kostenfrei Inhaltsverzeichnis |
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