Finding all possible critical paths for on-line monitoring of aging in integrated circuits
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
München
TUM, Lehrstuhl für Entwurfsautomatisierung, Fak. für Elektrotechnik und Informationstechnik
2011
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| Tags: |
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