Reliability of Nanoscale Circuits and Systems Methodologies and Circuit Architectures

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser: Stanisavljevic, Milos (VerfasserIn), Schmid, Alexandre (VerfasserIn), Leblebici, Yusuf 1962- (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:English
Veröffentlicht: New York, NY Springer New York 2011
Ausgabe:1. Aufl.
Online-Zugang:BTU01
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