Scanning force microscopy with applications to electric, magnetic, and atomic forces
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
New York [u.a.]
Oxford Univ. Press
1994
|
| Ausgabe: | Rev. ed. |
| Schriftenreihe: | Oxford series in optical and imaging sciences
5 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
| Tags: |
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