Frontiers of characterization and metrology for nanoelectronics 2007 International Conference on Frontiers of Characterization and Metrology for Nanoelectronics Gaithersburg, Maryland, 27 - 29 March 2007
Gespeichert in:
| Weitere Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Tagungsbericht Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Melville, NY
AIP, American Inst. of Physics
2007
|
| Schriftenreihe: | AIP conference proceedings
931 |
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
| Tags: |
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