Proceedings 24 - 26 October 2001, San Francisco, California

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: International Symposium on Defect and Fault Tolerance in VLSI Systems San Francisco, Calif (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Young, Danielle C. (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: LosAlamitos, Calif. <<[u.a.]>> IEEE Computer Soc. 2001
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