The application of electron microscopy to materials science proceedings of an international workshop, held in China, Gauonzhou, August 1988
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Format: | Buch |
Sprache: | Undetermined |
Veröffentlicht: |
Brookfield, Vt. <<[u.a.]>>
Transtech Publ.
1988
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Schriftenreihe: | Diffusion and defect data B
5 |
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