Symposium held April 30 - May 3, Anaheim, California, USA

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Symposium on Materials Reliability Issues in Microelectronics Anaheim, Calif (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Lloyd, James R. (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:Undetermined
Veröffentlicht: Pittsburgh, Pa. 1991
Schriftenreihe:Materials Research Society symposium proceedings 225
Materials Research Society symposium proceedings 225 : Materials reliability issues in microelectronics ; [1]
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