Proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis November 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California
Gespeichert in:
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| Format: | Tagungsbericht Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Materials Park, Ohio
ASM International
2005
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| Ausgabe: | 1. print. |
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| Beschreibung: | XVIII, 523 S. Ill., graph. Darst. 1 CD-ROM (12 cm) |
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| ISBN: | 087170823x |