Proceedings of the 31st International Symposium for Testing and Failure Analysis November 6-10, 2005, McEnery Convention Center, San Jose, California

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Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: ISTFA San José, Calif (VerfasserIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: Materials Park, Ohio ASM International 2005
Ausgabe:1. print.
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