SPM 2004 proceedings of the sixth International Conference on Scanning Probe Microscopy, Sensors and Nanostructures, Beijing, China, May 24 - 26, 2004
Gespeichert in:
| Körperschaft: | |
|---|---|
| Format: | Tagungsbericht Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Amsterdam [u.a.]
Elsevier
2005
|
| Schriftenreihe: | Ultramicroscopy
105 |
| Schlagworte: | |
| Tags: |
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