Defects in SiO 2 and related dielectrics science and technology ; [proceedings of the NATO Advanced Study Institute on Defects in SiO 2 and Related Dielectrics: Science and Technolgy, Erice, Italy, April 8 - 20, 2000]
Gespeichert in:
| Format: | Buch |
|---|---|
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Dordrecht [u.a.]
Kluwer Acad. Publ.
2000
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| Schriftenreihe: | NATO science series
Series II: Mathematics, physics and chemistry ; 2 |
| Schlagworte: | |
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