Untersuchungen zu leerstellenartigen Kristalldefekten nach Ionenimplantation in Halbleitern

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
1. Verfasser: Eichler, Stefan (VerfasserIn)
Format: Elektronisch E-Book
Sprache:German
Veröffentlicht: 1997
Schlagworte:
Online-Zugang:http://sundoc.bibliothek.uni-halle.de/diss-online/98/98H127/prom.pdf
http://d-nb.info/960418938/34
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