Recent development of electron microscopy proceedings of the Second Chinese-Japanese Electron Microscopy Seminar held in Beijing from October 17 to October 19 in 1983
Gespeichert in:
| Format: | Tagungsbericht Buch |
|---|---|
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Tokyo
Business Center for Acad. Soc. Japan
1985
|
| Schlagworte: | |
| Online-Zugang: | Inhaltsverzeichnis |
| Tags: |
Tag hinzufügen
Keine Tags, Fügen Sie den ersten Tag hinzu!
|
Wegen Wartungsarbeiten nicht verfügbar
Unser Bibliotheksverwaltungssystem ist momentan wegen Wartungsarbeiten nicht verfügbar.
Bestandes- und Verfügbarkeitsinformationen können momentan leider nicht angezeigt werden. Wir entschuldigen uns für die Umstände und stehen für weitere Fragen gerne zur Verfügung: