Reliability, yield, and stress burn-in a unified approach for microelectronics systems manufacturing & software development
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Boston [u.a.]
Kluwer
1998
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| Schlagworte: | |
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