Atomic force microscopy, scanning tunneling microscopy 2 proceedings of the Second US Army Soldier Systems Command, Natick Research, Development and Engineering Center Atomic Force Microscopy, Scanning Tunneling Microscopy (AFM/STM) Symposium, held June 7 - 9, 1994, in Natick, Massachusetts

Gespeichert in:
Bibliographische Detailangaben
Körperschaft: Atomic Force Microscopy, Scanning Tunneling Microscopy Symposium Natick, Mass (VerfasserIn)
Weitere Verfasser: Cohen, Samuel H. (HerausgeberIn)
Format: Tagungsbericht Buch
Sprache:English
Veröffentlicht: New York [u.a.] Plenum Press 1997
Schriftenreihe:Atomic force microscopy, scanning tunneling microscopy 2
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