Time-of-flight spectrometry of recoiled atoms in the analysis of thin films

Bibliographische Detailangaben

1. Verfasser:	Jokinen, Janne (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Helsinki Finnish Acad. of Technology 1997
Schriftenreihe:	Acta polytechnica Scandinavica / Applied physics series 212
Schlagworte:	Affichage électroluminescent Couches minces Faisceaux ioniques Recul élastique Spectrométrie de masse à temps de vol Épitaxie Hochschulschrift
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