Time-of-flight spectrometry of recoiled atoms in the analysis of thin films
Gespeichert in:
| 1. Verfasser: | |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Helsinki
Finnish Acad. of Technology
1997
|
| Schriftenreihe: | Acta polytechnica Scandinavica / Applied physics series
212 |
| Schlagworte: | |
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