Proceedings of the 2nd International Symposium on Oxide Electronics december 14 - 15, 1995, Yokohama, Japan
Gespeichert in:
Körperschaft: | |
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Format: | Tagungsbericht Buch |
Sprache: | English |
Veröffentlicht: |
Amsterdam [u.a.]
Elsevier
1996
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Schriftenreihe: | Materials science & engineering / B
41,1 |
Schlagworte: | |
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