On minimizing the number of test points needed to achieve complete robust path delay fault testability

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Bibliographische Detailangaben
Hauptverfasser:	Uppaluri, P. (VerfasserIn), Sparmann, U. (VerfasserIn), Pomeranz, I. (VerfasserIn)
Format:	Buch
Sprache:	English
Veröffentlicht:	Saarbrücken [u.a.] Sonderforschungsbereich 124 1995
Schriftenreihe:	Sonderforschungsbereich VLSI-Entwurfsmethoden und Parallelität <Saarbrücken; Kaiserslautern>: SFB-Bericht 1995,8
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