On minimizing the number of test points needed to achieve complete robust path delay fault testability
Gespeichert in:
| Hauptverfasser: | , , |
|---|---|
| Format: | Buch |
| Sprache: | English |
| Veröffentlicht: |
Saarbrücken [u.a.]
Sonderforschungsbereich 124
1995
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| Schriftenreihe: | Sonderforschungsbereich VLSI-Entwurfsmethoden und Parallelität <Saarbrücken; Kaiserslautern>: SFB-Bericht
1995,8 |
| Tags: |
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